Dariusz Czysz

14 papers A* 1A 4B 1Misc 2Journal 6
YearRankTypeTitle / Venue / Authors
2023 J jnl
Perspectives of Motor Functional Upper Extremity Recovery with the Use of Immersive Virtual Reality in Stroke Patients.
Sensors
Pawel Sip, Marta Kozlowska, Dariusz Czysz, Przemyslaw Daroszewski, Przemyslaw Lisinski
2013 J jnl
On Deploying Scan Chains for Data Storage in Test Compression Environment.
IEEE Des. Test
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2012 A conf
Low power test application with selective compaction in VLSI designs.
ITC
Dariusz Czysz, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2011 J jnl
Deterministic Clustering of Incompatible Test Cubes for Higher Power-Aware EDT Compression.
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Przemyslaw Szczerbicki, Jerzy Tyszer
2011 B conf
Reduced ATE Interface for High Test Data Compression.
ETS
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2010 A conf
Low power compression of incompatible test cubes.
ITC
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Przemyslaw Szczerbicki, Jerzy Tyszer
2010 J jnl
On Compaction Utilizing Inter and Intra-Correlation of Unknown States.
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2009 A conf
Compression based on deterministic vector clustering of incompatible test cubes.
ITC
Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Dariusz Czysz, Jerzy Tyszer
2009 Misc conf
Highly X-Tolerant Selective Compaction of Test Responses.
VTS
Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Dariusz Czysz, Jerzy Tyszer
2009 J jnl
Low-Power Scan Operation in Test Compression Environment.
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
Dariusz Czysz, Mark Kassab, Xijiang Lin, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2008 A conf
Low Power Scan Shift and Capture in the EDT Environment.
ITC
Dariusz Czysz, Mark Kassab, Xijiang Lin, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2008 J jnl
Low-Power Test Data Application in EDT Environment Through Decompressor Freeze.
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2007 Misc conf
Low Power Embedded Deterministic Test.
VTS
Dariusz Czysz, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer
2007 A* conf
New Test Data Decompressor for Low Power Applications.
DAC
Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Dariusz Czysz, Jerzy Tyszer